校準前的準備工作

　　1.1 設備選型與精度要求

　　恒溫裝置：需配備0.01級精度的恒溫槽(如ConST681-S精密恒溫水槽)及恒溫油槽(如ConST682-S)，溫度波動度≤±0.01℃，均勻度≤±0.02℃。

　　標準器：采用0.005級標準鉑電阻溫度計(如PT100)，其R0值偏差≤±0.012Ω，R100/R0比值偏差≤±0.00005。

　　測量儀表：使用0.02級直流電橋(如Keithley 2002)或數字多用表，分辨率≥0.1mΩ，采樣速率≥10次/秒。

　　輔助工具：配備絕緣電阻測試儀(≥500V)、分壓器、切換開關及電位差計。

　　1.2 熱電阻預檢

　　外觀檢查：確認保護套管無裂紋、彎曲，接線端子無氧化，絕緣層完整。

　　絕緣電阻測試：在5~35℃、≤85%RH環境下，鉑熱電阻絕緣電阻≥100MΩ，銅熱電阻≥20MΩ。

　　引線方式核查：熱電阻必須采用三線制或四線制接線，二線制僅適用于低精度場景。

校準方法與操作流程

　　2.1 分度值校驗法

　　2.1.1 溫度點選擇

　　根據熱電阻使用范圍，選取以下典型溫度點：

　　低溫段：0℃(冰點槽)

　　中溫段：50℃、100℃(恒溫水槽/油槽)

　　高溫段：200℃、300℃(根據實際需求擴展)

　　2.1.2 測量步驟

　　恒溫控制：將標準器與被校熱電阻垂直插入恒溫槽，插入深度≥150mm，確保熱平衡時間≥30分鐘。

　　電阻測量：

　　使用四線制連接消除引線電阻影響，調節分壓器使電流≤4mA(避免自熱效應)。

　　切換開關依次連接標準器與被校熱電阻，記錄電位差計示值V0、Vt，計算電阻值：

　　Rt=V0Vt×Rs其中，$ R_s $為標準器電阻值。

　　3. 重復性測試：同一溫度點重復測量3次，取平均值作為最終結果。

　　2.1.3 數據處理

　　對比被校熱電阻的測量值與分度表理論值，計算絕對誤差：

　　ΔR=Rt,meas?Rt,table允許誤差范圍：熱電阻≤±(0.15+0.002|t|)Ω，≤±(0.10+0.0017|t|)Ω(t為溫度，℃)。

　　2.2 純度校驗法

　　2.2.1 關鍵參數測量

　　0℃電阻值(R0)：在冰點槽中測量，冰層厚度≥30mm，穩定時間≥45分鐘。

　　100℃電阻值(R100)：在恒溫油槽中測量，溫度偏差≤±0.5℃，穩定時間≥60分鐘。

　　2.2.2 純度比值計算

　　計算R100/R0比值，并與標準值對比：

　　鉑熱電阻(PT100)：標準比值1.3850±0.0006

　　銅熱電阻(Cu50)：標準比值1.4280±0.0012

　　2.2.3 判定標準

　　若比值偏差超出允許范圍，需進一步檢查材料純度或引線焊接質量。

驗證與結果判定

　　3.1 校驗周期

　　工業用熱電阻：≤1年/次

　　實驗室基準熱電阻：≤6個月/次

　　3.2 不合格處理

　　分度特性超差：調整電阻體或更換引線，重新校準。

　　純度比值異常：檢測保護套管密封性，排查氧化或污染源。

　　3.3 報告生成

　　采用自動化軟件(如ACal)記錄以下數據：

　　溫度點、測量值、標準值、絕對誤差

　　純度比值及偏差

　　校驗結論(合格/不合格)

注意事項

　　熱平衡控制：恒溫槽溫度變化率≤0.02℃/10min，避免梯度誤差。

　　自熱效應抑制：測量電流≤4mA，對于熱電阻建議≤1mA。

　　引線電阻補償：三線制連接時，需通過惠斯通電橋法消除引線電阻影響。

　　環境干擾防護：避免強電磁場干擾，測量區域濕度≤80%RH。

　　本文提出的校準方法通過分度值校驗與純度校驗雙重驗證，結合高精度設備與標準化流程，可確保高精度熱電阻的測量誤差控制在允許范圍內。實際應用中，需根據熱電阻型號、使用環境及精度等級靈活調整校驗參數，并建立完善的溯源體系，以保障工業測溫系統的可靠性與穩定性。